HATS²™技术

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HATS²™单孔试样带有7个单孔测试通道,且试样的压接连接器可使试样进行多次回流焊模拟试验。在经HATS²™技术升级后HATS™设备可装载36块这种试样(252个测试通道)。
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HATS²™单孔试样带有6个单孔通道和一个菊花链(通道1)。试样包括的压接连接器可使得试样多次回流焊模拟试验。在经HATS²™技术升级后HATS™设备可装载36块这种HATS²™单孔试样(252个测试通道)。
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IPC-2221B "D"类试样带有2条菊花链通道且为压接连接器,可进行多次回流焊模拟试验。在经HATS²™技术升级后HATS™设备可装载72块这种IPC "D"类试样(144个测试通道)。
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传统的HATS™试样带有4条菊花链通道。焊接的连接头可用于进行热冲击/循环,而压接的连接头可以允许在经HATS²™技术升级后HATS™设备上进行的多次回流焊模拟试验。HATS™设备上可装载36块此类试样(144个测试通道),不管是设备升级前的仅热冲击/循环试验,还是经HATS²™技术升级后设备的回流焊及热冲击/循环试验。
HATS²™技术发布于2020年并用于HATS™的系统更新。该更新新增的功能可按照IPC-TM-650 方法2.6.27B和其他客户自定义的回流焊曲线进行多次对流回流焊模拟试验,最高温可达260度,并包含实时电阻测量功能,用以探测在对流回流焊高温/膨胀时孔结构的开裂或分离,此类开裂或分离在低温时会再次机械连接上。有关HATS™ HATS²™的更多详细信息,请访问我们资源标题下的FAQ页面。

HATS²™技术也改进了HATS™的测量子系统,可进行高电流、毫欧级的精度、4线桥电阻测量。此项改进使得HATS™设备可对HATS²™的单孔测试试样(已获专利)进行测试。改进后的测量子系统也可以使HATS™设备中对流回流焊及热冲击/循环功能的测试试样数量达到72IPC-2221B "D"型试样和36块传统或单孔HATS™试样。有关HATS™  HATS²™的更多详细信息,请访问我们HATS²™技术标题下的HATS²™单孔页面。

HATS²™技术在HATS™系统上的更新也包括全新的报告软件,客户可以通过图文表俱全的报告得到对测试结果更清楚的理解。有关HATS™ HATS²™的更多详细信息,请访问我们资源标题下的报告示例页面。
*美国专利号10,379,15。德国专利号 10 2019 006 553.0。中国专利号 ZL 201922142627.1。全球其他专利号更新中。
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