HATS²™ 技术

HATS²™技术

HATS²™单孔试样带有7个单孔测试通道，且试样的压接连接器可使试样进行多次回流焊模拟试验。在经HATS²™技术升级后HATS™设备可装载36块这种试样（252个测试通道）。

HATS²™单孔试样带有6个单孔通道和一个菊花链（通道1）。试样包括的压接连接器可使得试样多次回流焊模拟试验。在经HATS²™技术升级后HATS™设备可装载36块这种HATS²™单孔试样（252个测试通道）。

IPC-2221B "D"类试样带有2条菊花链通道且为压接连接器，可进行多次回流焊模拟试验。在经HATS²™技术升级后HATS™设备可装载72块这种IPC "D"类试样（144个测试通道）。

传统的HATS™试样带有4条菊花链通道。焊接的连接头可用于进行热冲击/循环，而压接的连接头可以允许在经HATS²™技术升级后HATS™设备上进行的多次回流焊模拟试验。HATS™设备上可装载36块此类试样（144个测试通道），不管是设备升级前的仅热冲击/循环试验，还是经HATS²™技术升级后设备的回流焊及热冲击/循环试验。

HATS²™技术发布于2020年并用于HATS™的系统更新。该更新新增的功能可按照IPC-TM-650 方法2.6.27B和其他客户自定义的回流焊曲线进行多次对流回流焊模拟试验，最高温可达260度，并包含实时电阻测量功能，用以探测在对流回流焊高温/膨胀时孔结构的开裂或分离，此类开裂或分离在低温时会再次机械连接上。有关HATS™ 及 HATS²™的更多详细信息，请访问我们资源标题下的FAQ页面。

HATS²™技术也改进了HATS™的测量子系统，可进行高电流、毫欧级的精度、4线桥电阻测量。此项改进使得HATS™设备可对HATS²™的单孔测试试样（已获专利）进行测试。改进后的测量子系统也可以使HATS™设备中对流回流焊及热冲击/循环功能的测试试样数量达到72块IPC-2221B "D"型试样和36块传统或单孔HATS™试样。有关HATS™ 及 HATS²™的更多详细信息，请访问我们HATS²™技术标题下的HATS²™单孔页面。

HATS²™技术在HATS™系统上的更新也包括全新的报告软件，客户可以通过图文表俱全的报告得到对测试结果更清楚的理解。有关HATS™ 及 HATS²™的更多详细信息，请访问我们资源标题下的报告示例页面。

* 美国专利号10,379,153。德国专利号10 2019 006 553.0。中国专利号ZL 2019 2 2142627.1。全球其他专利号更新中。